Лазерний ToF-датчик відстані TOF400C VL53L1X (4-400 см)

Лазерний ToF-датчик відстані TOF400C VL53L1X — компактний лазерний датчик для безконтактного вимірювання відстані до об'єктів на дистанції до 4 м. Модуль побудований на мікросхемі VL53L1X від STMicroelectronics і використовує технологію ToF (Time of Flight), яка визначає відстань за часом проходження інфрачервоного світлового імпульсу до об'єкта та назад.

Датчик передає результати вимірювань через цифровий інтерфейс I²C, завдяки чому його легко інтегрувати в проєкти на базі Arduino, ESP32, STM32 та інших сумісних мікроконтролерів. Компактні розміри дають змогу використовувати модуль у робототехніці, системах навігації, автоматизації та виявлення перешкод.

Особливості:

• Дальність вимірювання — до 400 см.
• Високоточний принцип вимірювання ToF.
• Датчик на базі мікросхеми VL53L1X.
• Інтерфейс передавання даних — I²C (IIC).
• Живлення від джерела постійної напруги 3–5 В.
• Інфрачервоне випромінювання з довжиною хвилі 940 нм.
• Кут огляду — близько 27°.
• Підтримка виявлення простих рухів в одному напрямку.
• Виводи INT і SHUT для керування роботою датчика.
• Можливість програмної зміни адреси I²C для використання кількох датчиків на одній шині.

Сфери застосування:

• Вимірювання відстані до об'єктів.
• Виявлення перешкод у мобільних роботах.
• Навігація та позиціонування роботизованих пристроїв.
• Виявлення присутності об'єктів.
• Системи автоматизації та безконтактного керування.
• Вимірювання рівня заповнення та контроль положення об'єктів.
• Проєкти на базі Arduino, ESP32, STM32 та Raspberry Pi.

Технічні характеристики:

• Модель: TOF400C.
• Мікросхема датчика: VL53L1X.
• Технологія вимірювання: ToF (Time of Flight).
• Діапазон вимірювання: від 4 до 400 см.
• Мінімальна дистанція: близько 4 см.
• Інтерфейс: I²C (IIC).
• Напруга живлення: 3–5 В DC.
• Максимальний струм споживання: до 40 мА.
• Довжина хвилі інфрачервоного випромінювання: 940 нм.
• Кут огляду: близько 27°.
• Робоча температура: від -20 до +70 °C.

Примітка: фактична дальність і стабільність вимірювань залежать від освітленості, відбивних властивостей і кольору поверхні об'єкта.