Лазерный ToF-датчик расстояния TOF400C VL53L1X (4-400 см)

Лазерный ToF-датчик расстояния TOF400C VL53L1X — компактный лазерный датчик для бесконтактного измерения расстояния до объектов на дистанции до 4 м. Модуль основан на микросхеме VL53L1X от STMicroelectronics и использует технологию ToF (Time of Flight), которая определяет расстояние по времени прохождения инфракрасного светового импульса до объекта и обратно.

Датчик передаёт результаты измерений через цифровой интерфейс I²C, благодаря чему его легко интегрировать в проекты на базе Arduino, ESP32, STM32 и других совместимых микроконтроллеров. Компактные размеры позволяют использовать модуль в робототехнике, системах навигации, автоматизации и обнаружения препятствий.

Особенности:

• Дальность измерения — до 400 см.
• Высокоточный принцип измерения ToF.
• Датчик на базе микросхемы VL53L1X.
• Интерфейс передачи данных — I²C (IIC).
• Питание от источника постоянного напряжения 3–5 В.
• Инфракрасное излучение с длиной волны 940 нм.
• Угол обзора — около 27°.
• Поддержка обнаружения простых движений в одном направлении.
• Выводы INT и SHUT для управления работой датчика.
• Возможность программного изменения адреса I²C для использования нескольких датчиков на одной шине.

Области применения:

• Измерение расстояния до объектов.
• Обнаружение препятствий в мобильных роботах.
• Навигация и позиционирование роботизированных устройств.
• Определение присутствия объектов.
• Системы автоматизации и бесконтактного управления.
• Измерение уровня заполнения и контроль положения объектов.
• Проекты на базе Arduino, ESP32, STM32 и Raspberry Pi.

Технические характеристики:

• Модель: TOF400C.
• Микросхема датчика: VL53L1X.
• Технология измерения: ToF (Time of Flight).
• Диапазон измерения: от 4 до 400 см.
• Минимальная дистанция: около 4 см.
• Интерфейс: I²C (IIC).
• Напряжение питания: 3–5 В DC.
• Максимальный ток потребления: до 40 мА.
• Длина волны инфракрасного излучения: 940 нм.
• Угол обзора: около 27°.
• Рабочая температура: от -20 до +70 °C.

Примечание: фактическая дальность и стабильность измерений зависят от освещённости, отражающих свойств и цвета поверхности объекта.